JPCA Show 2014　出展通知（上多川）

2014年6月3日

我们将出展于2014年6月4日（三）至6日（金）开展的JPCA Show 2014。
本年的JPCA Show、「将提供从现有的领域到新领域业界标准(de-facto standard)的检查技术」为主题、增加面向印刷电路板和半导体封装通电检测装置的新产品,触摸屏以及车载用部品检查等的新领域、为客户提出最适合的检查解决方案。

【主要展示内容】

・半导体封装通电检测装置 GATS-7530 / 7510
・印刷电路板检查装置 STAR REC M6 ⅡW / STAR REC M6 ⅡSW

・高速/高精度测试机 R-5810

・光学式外观检查装置 RSH-S/D120C、 Rwi-300 他
・检查治具 同軸MEMS、20um探针治具、通用型治具
・触摸屏检查装置 薄膜式Roll to Roll（供应、绕卷）机构装置

・车载相关检查装置 其他
 我们期待您的光临。

会場：东京国际会展中心 東6会场
会期：2014年6月4日(三)～6日(五)